一种微纳光纤色散测量方法
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摘要

本发明公开了一种微纳光纤色散测量方法。本发明利用拉锥光纤的非线性系数和色散与拉锥光纤的芯径相关,从而增益系数由拉锥光纤的芯径以及泵浦光的波长确定的原理,采用显微镜测量得到的拉锥光纤的芯径作为待测量的拉锥光纤的芯径的预估值,拉锥光纤的芯径的预估值与真实值的误差通常在百nm,这样的误差对拉锥光纤的非线性系数影响不大,在计算时固定非线性系数为芯径的预估值下的值,通过调整二阶色散的值,使得在泵浦光的设定波长处的信号光的增益随泵浦光的功率的变化曲线与实验数据相一致,从而精确获得待测量的拉锥光纤的色散值;进一步获得拉锥光纤的芯径的真实值。

基本信息
专利标题 :
一种微纳光纤色散测量方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN112729773A
申请号 :
CN202110170944.3
公开(公告)日 :
2021-04-30
申请日 :
2021-02-08
授权号 :
CN112729773B
授权日 :
2022-05-13
发明人 :
李汉明
申请人 :
北京明睿光谱科技有限公司
申请人地址 :
北京市海淀区清华东路35号北京林业大学学研中心1层C0106-3房间
代理机构 :
北京万象新悦知识产权代理有限公司
代理人 :
王岩
优先权 :
CN202110170944.3
主分类号 :
G01M11/00
IPC分类号 :
G01M11/00  G01M11/02  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试;其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/00
光学设备的测试;其他类目未包括的用光学方法测试结构部件
法律状态
2022-05-13 :
授权
2021-05-21 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01M 11/00
申请日 : 20210208
2021-04-30 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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