本发明涉及一种微纳薄膜热导率的快速测量方法，属于微纳薄膜领域和热测量领域。本发明使用非接触式激光稳态测量方法和加速匹配算法相结合，可以实现厚度在微纳米尺度的薄膜热导率的快速测量；首先将微纳薄膜安装在样品固定装置中，然后使用光源加热微纳薄膜样品的表面使其温度上升，待其温度稳定不变后，使用测温装置测量微纳薄膜表面加热区的稳定温度，随后记录温度数值并导入仿真模型中使用加速匹配算法中进行计算，最后根据计算结果可得到被测薄膜的热导率值；本发明方法无需对测试薄膜进行额外的微纳加工，不会破坏薄膜的结构和完整性，测试装置可重复使用，可以实现多种不同类型的微纳薄膜的热导率测试。