用于测量微纳颗粒的装置
授权
摘要
本实用新型揭示了一种用于测量微纳颗粒的装置，其中，该装置包括：包括腔体和至少两张微孔膜，所述微孔膜串设在所述腔体内，将所述腔体分隔为多个腔室，并且所述微孔膜上具有微孔，相邻两个腔室通过所述微孔相连通，每个所述腔室具有电极。本实用新型的技术方案能够实现对溶液状态下微纳颗粒的三维形态属性的测量。
基本信息
专利标题 ：
用于测量微纳颗粒的装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922061900.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-22
授权号 ：
CN211122430U
授权日 ：
2020-07-28
发明人 ：
柳可熊贵王哲
申请人 ：
瑞芯智造（深圳）科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市龙华区观澜街道新澜社区观光路1301号银星科技大厦C601
代理机构 ：
深圳市隆天联鼎知识产权代理有限公司
代理人 ：
刘抗美
优先权 ：
CN201922061900.8
主分类号 ：
G01N15/00
IPC分类号 ：
G01N15/00 G01N15/02
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积
法律状态
2020-07-28 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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