光纤输出光束轮廓测量方法和光纤输出光束轮廓测量装置
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摘要
本文提供了一种用于测量从随机耦合的多芯光纤输出的光束的轮廓的方法及装置。该装置包括光源、测量单元和分析单元。将从光源输出的光在光纤的输入端输入到光纤的多个空间模式中的一个或多个空间模式中。测量单元通过对在光纤的输出端从多个空间模式输出的组合光的光束轮廓的多个空间模式之间的干涉分量求平均，来测量从多个空间模式中的相应空间模式输出的各个光分量的强度分布的总和。分析单元根据由测量单元获得的各个光分量的强度分布的总和来计算光纤的MFD和/或Aeff。
基本信息
专利标题 ：
光纤输出光束轮廓测量方法和光纤输出光束轮廓测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN109211527A
申请号 ：
CN201810736021.8
公开（公告）日 ：
2019-01-15
申请日 ：
2018-07-06
授权号 ：
CN109211527B
授权日 ：
2022-04-15
发明人 ：
林哲也永岛拓志
申请人 ：
住友电气工业株式会社
申请人地址 ：
日本大阪府
代理机构 ：
北京天昊联合知识产权代理有限公司
代理人 ：
顾红霞
优先权 ：
CN201810736021.8
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02
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IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2022-04-15 ：
授权
2020-07-03 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01M 11/02
申请日 : 20180706
申请日 : 20180706
2019-01-15 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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