涡旋光束的涡旋强度测量装置及其测量方法
公开
摘要
本发明涉及一种基于低频外差干涉仪的涡旋光束涡旋强度测量方法。测量装置包括涡旋光产生模块，用于生成待测涡旋光；移频模块，用于改变参考光波的频率；干涉模块，用于待测涡旋光与参考光的干涉；成像装置，用于接收干涉条纹信息，并传输至计算机进行数据处理以及涡旋强度计算。本发明通过计算涡旋光束相位分布实现涡旋强度的测量，是一种新型的测量方法，检测所需元件简便易得，并且能够实现指定区域涡旋光束总涡旋强度的准确测量。
基本信息
专利标题 ：
涡旋光束的涡旋强度测量装置及其测量方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114295203A
申请号 ：
CN202210028405.0
公开（公告）日 ：
2022-04-08
申请日 ：
2022-01-11
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
冯国英郭劲苗
申请人 ：
四川大学
申请人地址 ：
四川省成都市武侯区一环路南一段24号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202210028405.0
主分类号 ：
G01J1/22
IPC分类号 ：
G01J1/22
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J1/00
光度测定法，例如照相的曝光表
G01J1/10
采用与基准光或基准电参数相比较的方法
G01J1/20
改变被测的或基准值的强度，使它们在检测器产生相等的效应，例如通过改变入射角
G01J1/22
在光通路中应用可变元件，例如用滤光器、偏振装置
法律状态
2022-04-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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