测量部分相干涡旋光束拓扑荷数大小和正负的方法及系统

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摘要

本发明公开了一种测量部分相干涡旋光束拓扑荷数大小和正负的方法及系统，该方法包括：将部分相干涡旋光束入射至双缝并发生干涉；将干涉后的部分相干涡旋光束通过透镜聚焦至纯相位空间光调制器的接收屏上；通过纯相位空间光调制器对接收屏上部分相干涡旋光束的中心引入三次不同相位赋值的扰动；对扰动后的部分相干涡旋光束进行傅里叶变换，并记录三次不同相位赋值下傅里叶平面的光强；根据三次不同相位赋值和三次不同相位赋值下傅里叶平面的光强，基于反傅里叶变换计算得到双缝干涉并聚焦后的部分相干涡旋光束的交叉谱密度函数。从交叉谱密度函数的相位分布图中可以直接观测相干奇点，从而得到部分相干涡旋光束的拓扑荷数大小和正负信息。

基本信息

专利标题：

测量部分相干涡旋光束拓扑荷数大小和正负的方法及系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN111412983A

申请号：

CN202010269809.X

公开（公告）日：

2020-07-14

申请日：

2020-04-08

授权号：

CN111412983B

授权日：

2022-04-01

发明人：

赵承良陈天池卢兴园蔡阳健

申请人：

苏州大学

申请人地址：

江苏省苏州市吴中区石湖西路188号

代理机构：

苏州市中南伟业知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

张荣

优先权：

CN202010269809.X

主分类号：

G01J1/42

IPC分类号：

G01J1/42 G01J9/02