一种基于径向光栅辐数检测涡旋光束拓扑荷数的装置

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摘要

本实用新型提供一种基于径向光栅辐数测量涡旋光束拓扑荷的装置，本实用新型的核心元件是内含辐数为2至20的径向光栅升降装置，可以依次将不同辐数的径向光栅降落至光路平台，恰使待测涡旋光束通过。待测涡旋光束入射到径向光栅升降装置中，经过下落的径向光栅后，其后方电荷耦合器件接收衍射图样并在计算机中显现。通过观察衍射图样中光轴部分的亮点存在与否来对涡旋光束拓扑荷进行检测。不同于传统的拓扑荷检测装置，本实用新型不需要引入额外的参考光束，观察衍射图样非常直观，而且对于拓扑荷的数量判断更为准确，迅速。测量装置简洁易于操作。

基本信息

专利标题：

一种基于径向光栅辐数检测涡旋光束拓扑荷数的装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021773617.4

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-08-24

授权号：

CN212748074U

授权日：

2021-03-19

发明人：

张浩然李劲松陈越洋徐阳

申请人：

中国计量大学

申请人地址：

浙江省杭州市下沙高教园区学源街258号中国计量大学

代理机构：

代理人：

优先权：

CN202021773617.4

主分类号：

G01J11/00

IPC分类号：

G01J11/00