聚合物光纤预制棒折射率的细光束扫描测量方法及装置
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要

本发明是一种聚合物光纤预制棒折射率分布测试仪及其测试方法。它采用一种新的测试方法和设备精确方便地测量梯度折射率聚合物光纤预制棒沿径向的折射率分布。整个测试仪由图像形成系统和图像处理系统两部分组成,其中图像形成系统由光源、衰减器、光阑、聚焦系统、载物台、CCD摄像机依次放置在位于壳体内的工作平台上构成,光纤预制棒放置在载物台上的夹具中,CCD摄像机的信号输出口与图像处理系统的信号输入口相连。它利用CCD图像技术,结合计算机图像处理软件,利用蒙特卡罗算法进行数据运算和处理,实现了对预制棒的折射率分布的测试。整个装置具有结构简单,调节方便、直观,造价低,便于测量等特点。

基本信息
专利标题 :
聚合物光纤预制棒折射率的细光束扫描测量方法及装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1776411A
申请号 :
CN200510030833.3
公开(公告)日 :
2006-05-24
申请日 :
2005-10-28
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
周鸿颖陈家璧邱高
申请人 :
东华大学
申请人地址 :
200051上海市延安西路1882号
代理机构 :
上海新天专利代理有限公司
代理人 :
邬震中
优先权 :
CN200510030833.3
主分类号 :
G01N21/84
IPC分类号 :
G01N21/84  G01N21/41  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
法律状态
2009-04-22 :
发明专利申请公布后的视为撤回
2006-07-19 :
实质审查的生效
2006-05-24 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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