选区激光熔化装备全幅面光束质量测量方法和测量装置
实质审查的生效
摘要
本发明涉及选区激光熔化装备全幅面光束质量测量方法和测量装置，该方法通过将SLM设备的成形幅面划分为二维坐标系和四个象限；调试光路系统的扫描精度满足≤0.05mm并使得坐标原点处M2因子≤1.1；将其他待测量位置的坐标通过光路路径模拟计算得到转换坐标；调节反射镜的角度，使其反射的激光红外光束能够与转换坐标对应的待测点重合；利用测量装置测量转换坐标对应的M2因子；最后对全部测量的M2因子进行数据统计分析的方式，实现了SLM装备全幅面光束质量M2因子的测量，为SLM装备的光路系统调试提供评判依据，进而提升整套SLM装备的成形质量与稳定性。
基本信息
专利标题 ：
选区激光熔化装备全幅面光束质量测量方法和测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114453595A
申请号 ：
CN202210254187.2
公开（公告）日 ：
2022-05-10
申请日 ：
2022-03-15
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
王强孟宪钊饶衡毕云杰
申请人 ：
季华实验室
申请人地址 ：
广东省佛山市南海区桂城街道环岛南路28号
代理机构 ：
深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
孟洁
优先权 ：
CN202210254187.2
主分类号 ：
B22F10/85
IPC分类号 ：
B22F10/85 B22F12/90 B22F10/28 B22F10/366 B33Y50/02
IPC结构图谱
B
B部——作业；运输
B22
铸造；粉末冶金
B22F
金属粉末的加工；由金属粉末制造制品；金属粉末的制造，金属粉末的专用装置或设备
B22F10/85
用于控制或调节增材制造工艺
法律状态
2022-05-27 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : B22F 10/85
申请日 : 20220315
申请日 : 20220315
2022-05-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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