一种激光远场光束质量PIB因子的测量装置及测量方法
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摘要
本发明的目的是提供一种激光远场光束质量PIB因子的测量装置及测量方法，以解决现有技术无法实时得到PIV因子的技术问题。本发明通过高速旋转扫描圆盘带动呈渐开线分布的取样孔阵列和透射孔对入射激光束进行了光斑扫描，并采用一个大面积的光电探测单元获取光强信号，其中取样孔捕捉得到最强功率值对应的信号Fcircle，透射孔则测量得到入射光总功率对应的信号Ftotal，从而计算得到转盘转动一周内的PIB因子，同时由于采用了同一只探测器在相同光路上进行的PIB测量，只要确保探测器在线性范围内获取相对的信号幅值即可，省略了功率和信号之间的标定环节，简化了操作步骤，并具备测量实时性。
基本信息
专利标题 ：
一种激光远场光束质量PIB因子的测量装置及测量方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111024224A
申请号 ：
CN201911214277.3
公开（公告）日 ：
2020-04-17
申请日 ：
2019-12-02
授权号 ：
CN111024224B
授权日 ：
2022-04-01
发明人 ：
杨鹏翎陈绍武冯刚栾坤鹏吴勇张磊武俊杰王大辉
申请人 ：
西北核技术研究院
申请人地址 ：
陕西省西安市灞桥区平峪路28号
代理机构 ：
西安智邦专利商标代理有限公司
代理人 ：
王凯敏
优先权 ：
CN201911214277.3
主分类号 ：
G01J1/42
IPC分类号 ：
G01J1/42 G01J1/04
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J1/00
光度测定法，例如照相的曝光表
G01J1/42
采用电辐射检测器
法律状态
2022-04-01 ：
授权
2020-05-12 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01J 1/42
申请日 : 20191202
申请日 : 20191202
2020-04-17 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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