一种小光斑的光束质量测量分析系统
授权
摘要

本实用新型的一种小光斑的光束质量测量分析系统,通过在壳体内置孔径光阑和激光功率探测头,配合在光纤调节装置与孔径光阑之间增设调焦组,通过改变调焦组,可以快速调节孔径光阑与光纤输出之间的相对位置,从而以得到激光束的光束发散角。与现有技术相比较,本实用新型的孔径光阑与光纤调节装置之间位置的改变,无需改变孔径光阑的位置或者是光纤调节装置的物理位置,且其调节仅仅需要通过伺服电机带动调节轮旋转,从而以改变调节盘的转动,实现不同的调焦组处于检测中,调节更加迅速快捷,测量降低人工误差,使其检测更加精确。

基本信息
专利标题 :
一种小光斑的光束质量测量分析系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021200151.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-06-24
授权号 :
CN212844019U
授权日 :
2021-03-30
发明人 :
罗华高斌
申请人 :
武汉铢寸科技有限公司
申请人地址 :
湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷七路128号核磁波谱仪产业基地实验楼2层201室
代理机构 :
北京化育知识产权代理有限公司
代理人 :
尹均利
优先权 :
CN202021200151.9
主分类号 :
G01J11/00
IPC分类号 :
G01J11/00  G01J1/00  G01J1/04  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J11/00
测量单个光脉冲或光脉冲序列的特性
法律状态
2021-03-30 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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