用于测量光束角和光通量的测量设备和测量系统
授权
摘要
本申请公开一种用于测量光束角和光通量的测量设备和测量系统，测量设备包括支架、第一安装座、第二安装座和第三安装座，其中：支架包括刻度尺，刻度尺为圆弧结构件，刻度尺包括用于标识角度的第一刻度线，第一刻度线沿刻度尺的延伸方向分布，第一刻度线的标识范围大于或等于90°；第一安装座设置于支架上，且位于刻度尺所在圆环对应的圆心处，第一安装座的安装面朝向第一刻度线的0刻度，第一安装座用于定位安装灯具，以使灯具的光轴对准第一刻度线的0刻度；第二安装座和第三安装座均滑动配合于刻度尺。上述方案能够解决相关技术的光分布仪器存在的适应性较差、成本较高的问题。
基本信息
专利标题 ：
用于测量光束角和光通量的测量设备和测量系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123087988.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-09
授权号 ：
CN216594087U
授权日 ：
2022-05-24
发明人 ：
王耀海赵健王兆文
申请人 ：
欧普照明股份有限公司;苏州欧普照明有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区龙东大道6111号1幢411室
代理机构 ：
北京国昊天诚知识产权代理有限公司
代理人 ：
兰天爵
优先权 ：
CN202123087988.4
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02 G01D21/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2022-05-24 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
