质量分析装置以及质量分析方法
专利权的终止
摘要
本发明提供一种质量分析装置以及质量分析方法，实现排出效率高、质量分辨率高且排出能量低的线性阱，在导入由离子源生成的离子且具备具有入口、出口且施加有高频电压的四极杆电极的质量分析计中，利用在四极电场的中心轴上形成的阱电势来囚禁至少该离子的一部分，使囚禁的该离子的一部分向邻接的上述四极杆的中间方向振动，利用引出电场排出所振动的该离子，对所排出的该离子进行检测或导入其他检测处理。
基本信息
专利标题 ：
质量分析装置以及质量分析方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN101814415A
申请号 ：
CN201010163076.8
公开（公告）日 ：
2010-08-25
申请日 ：
2006-03-08
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
桥本雄一郎长谷川英树马场崇和气泉
申请人 ：
株式会社日立制作所
申请人地址 ：
日本东京
代理机构 ：
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
代理人 ：
曲瑞
优先权 ：
CN201010163076.8
主分类号 ：
H01J49/42
IPC分类号 ：
H01J49/42
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01J
放电管或放电灯
H01J49/00
粒子分光仪或粒子分离管
H01J49/26
质谱仪或质量分离管
H01J49/34
动态分光仪
H01J49/42
轨迹稳定型分光仪，如单极的、四极的、多极的、线振质谱仪型的
法律状态
2020-03-10 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : H01J 49/42
申请日 : 20060308
授权公告日 : 20120111
终止日期 : 20190308
申请日 : 20060308
授权公告日 : 20120111
终止日期 : 20190308
2012-01-11 ：
授权
2010-10-13 ：
实质审查的生效
号牌文件类型代码 : 1604
号牌文件序号 : 101007485100
IPC(主分类) : H01J 49/42
专利申请号 : 2010101630768
申请日 : 20060308
号牌文件序号 : 101007485100
IPC(主分类) : H01J 49/42
专利申请号 : 2010101630768
申请日 : 20060308
2010-08-25 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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