表面辅助激光解吸电离法、质量分析方法和质量分析装置
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摘要
本发明的一个方面所涉及的表面辅助激光解吸电离法包括：第一工序，其准备具有设置有从一个面(21a)贯通到另一个面(21b)的多个贯通孔(S)的基板(21)、和至少覆盖一个面(21a)的导电层(23)的试样支撑体(2)；第二工序，其将试样(10)载置于试样台(1)，且以另一个面(21b)与试样(10)相对的方式将试样支撑体(2)配置于试样(10)上；和第三工序，其通过向一个面(21a)照射激光(L)，使利用毛细管现象从另一个面(21b)侧经由贯通孔(S)而移动至一个面(21a)侧的试样(10)电离。
基本信息
专利标题 ：
表面辅助激光解吸电离法、质量分析方法和质量分析装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110736784A
申请号 ：
CN201911035872.0
公开（公告）日 ：
2020-01-31
申请日 ：
2016-08-26
授权号 ：
CN110736784B
授权日 ：
2022-04-22
发明人 ：
内藤康秀小谷政弘大村孝幸
申请人 ：
浜松光子学株式会社
申请人地址 ：
日本静冈县
代理机构 ：
北京尚诚知识产权代理有限公司
代理人 ：
杨琦
优先权 ：
CN201911035872.0
主分类号 ：
G01N27/64
IPC分类号 ：
G01N27/64
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N27/30
•••电极，例如测试电极；半电池
G01N27/60
通过测试静电变量
G01N27/64
利用波或粒子辐射电离气体，例如在电离室内
法律状态
2022-04-22 ：
授权
2020-02-25 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 27/64
申请日 : 20160826
申请日 : 20160826
2020-01-31 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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