四极质量分析器及质量分析方法
授权
摘要
本发明的四极质量分析器对四极杆系统的稳定带形成方式进行了优化，便于离子通过和阻挡多余离子，从而在离子传输效率不降低的情况下提升质量分辨。本发明的方案中避免了前述现有技术中对离子两方向共振频率控制中需要的高频交流信号的叠加，可有效减少快速射频电路中带宽限制所导致的射频电压非线性畸变引起四极杆的工作性能降低风险。同时，由于降低了所需各种交流激发信号的极限带宽，四极质谱所需的离子控制电场的扫描速度也可以更快速的控制。有利于获得高速的四极扫描质谱性能。
基本信息
专利标题 ：
四极质量分析器及质量分析方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110729171A
申请号 ：
CN201810781345.3
公开（公告）日 ：
2020-01-24
申请日 ：
2018-07-17
授权号 ：
CN110729171B
授权日 ：
2022-05-17
发明人 ：
蒋公羽孙文剑
申请人 ：
株式会社岛津制作所
申请人地址 ：
日本国京都府京都市中京区西之京桑原町1番地
代理机构 ：
上海光华专利事务所(普通合伙)
代理人 ：
高彦
优先权 ：
CN201810781345.3
主分类号 ：
H01J49/42
IPC分类号 ：
H01J49/42 H01J49/00
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01J
放电管或放电灯
H01J49/00
粒子分光仪或粒子分离管
H01J49/26
质谱仪或质量分离管
H01J49/34
动态分光仪
H01J49/42
轨迹稳定型分光仪，如单极的、四极的、多极的、线振质谱仪型的
法律状态
2022-05-17 ：
授权
2020-02-25 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01J 49/42
申请日 : 20180717
申请日 : 20180717
2020-01-24 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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