四极杆质谱分析装置
授权
摘要
一边利用CD电压调整部(96)使对检测部(6)的转换打拿极(61)施加的CD电压一点点地变化，一边在分析控制部(94)的控制下重复进行标准试样的测定。而且，每当获得实测的质谱时，谱图案判定部(93)判定实测质谱的图案是否与化合物数据库(92)中的该标准试样的标准质谱的图案一致，将视为一致的时刻的CD电压确定为其设定值。在改变向离子透镜(3)施加的施加电压来调整了质谱的图案的情况下，由于透镜电极的污染等，灵敏度等性能往往不稳定，但由于检测部(6)不易受到这样的污染的影响，因此能够避免性能的不稳定。
基本信息
专利标题 ：
四极杆质谱分析装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110720133A
申请号 ：
CN201780091831.6
公开（公告）日 ：
2020-01-21
申请日 ：
2017-06-29
授权号 ：
CN110720133B
授权日 ：
2022-05-06
发明人 ：
下村学
申请人 ：
株式会社岛津制作所
申请人地址 ：
日本京都府
代理机构 ：
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
刘新宇
优先权 ：
CN201780091831.6
主分类号 ：
H01J49/06
IPC分类号 ：
H01J49/06 G01N27/62 H01J49/42
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01J
放电管或放电灯
H01J49/00
粒子分光仪或粒子分离管
H01J49/02
零部件
H01J49/06
电子光学或离子光学装置
法律状态
2022-05-06 ：
授权
2020-02-21 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01J 49/06
申请日 : 20170629
申请日 : 20170629
2020-01-21 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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