一种分析ppb量级氙同位素丰度比的四极质谱测量装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种分析ppb量级氙同位素丰度比的四极质谱测量装置。该装置包括进样单元、一级纯化单元、二级纯化单元、低温提取单元和四极测量单元。该装置在四极质量分析器的前端增加了简单纯化单元，利用多离子探测模式，形成一个能够实现同位素丰度比测量功能的静态四极质谱仪。针对大气样品，该装置仅需要不超过1mL标准体积的气体，采用一定的处理技术，对氙同位素丰度比在10‑3范围的测量值与标称值相对偏差小于2.0%。本实用新型的分析ppb量级氙同位素丰度比的四极质谱测量装置具有部件重量轻、占地少、可拆卸的特点，能够满足现场大气样品中氙同位素丰度比的准确分析。
基本信息
专利标题 ：
一种分析ppb量级氙同位素丰度比的四极质谱测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920694033.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-05-16
授权号 ：
CN209911287U
授权日 ：
2020-01-07
发明人 ：
杨天丽刘雪梅龙开明罗立力王海龙孙明良杨凤杰欧阳群益
申请人 ：
中国工程物理研究院核物理与化学研究所
申请人地址 ：
四川省绵阳市919信箱214分箱
代理机构 ：
中国工程物理研究院专利中心
代理人 ：
翟长明
优先权 ：
CN201920694033.9
主分类号 ：
G01N27/62
IPC分类号 ：
G01N27/62
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N27/62
通过测试气体的电离，例如气溶胶；通过测试放电，例如阴极发射
法律状态
2020-01-07 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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