基于谱图迭代解析的超高/极高真空系统质谱测量方法
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种基于谱图迭代解析的超高/极高真空系统质谱测量方法。本发明对质谱直接测量结果进行二次数据分析处理，利用谱图的迭代解析对质谱原始测量数据进行整合处理，提取淹没在噪声中的有用微小信号，实现质谱图精准定性、定量分析，可大幅提升质谱分析仪器的动态范围特性，实现混合气体极小真空分压力痕量气体组分的定性、定量精确分析测量。
基本信息
专利标题 ：
基于谱图迭代解析的超高/极高真空系统质谱测量方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114509490A
申请号 ：
CN202111594705.7
公开（公告）日 ：
2022-05-17
申请日 ：
2021-12-24
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
董猛成永军孙雯君吴成耀冯天佑陈联裴晓强李刚刘国庭
申请人 ：
兰州空间技术物理研究所
申请人地址 ：
甘肃省兰州市城关区高新飞雁街100号
代理机构 ：
北京理工大学专利中心
代理人 ：
代丽
优先权 ：
CN202111594705.7
主分类号 ：
G01N27/62
IPC分类号 ：
G01N27/62
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N27/62
通过测试气体的电离，例如气溶胶；通过测试放电，例如阴极发射
法律状态
2022-06-03 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 27/62
申请日 : 20211224
申请日 : 20211224
2022-05-17 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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