真空腔体及质谱检漏设备
授权
摘要

本实用新型公开了一种真空腔体及质谱检漏设备。该真空腔体包括:上盖体;支撑座,对应所述上盖体设置;下盖体,设置在所述支撑座上,并与所述支撑座可拆卸连接;所述上盖体与所述下盖体之间形成有容纳腔;锁固部件,设置在所述支撑座与所述下盖体之间。本实用新型的真空腔体具有结构简单紧凑,交换负载低,便于更换,运行平稳,使用寿命长,工作效率高等优点。

基本信息
专利标题 :
真空腔体及质谱检漏设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921242682.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-08-02
授权号 :
CN210322202U
授权日 :
2020-04-14
发明人 :
龙超祥
申请人 :
深圳市远望工业自动化设备有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市宝安区福海街道桥头社区宝安大道6099号星港同创汇天璇座406
代理机构 :
深圳市惠邦知识产权代理事务所
代理人 :
孙大勇
优先权 :
CN201921242682.1
主分类号 :
G01M3/20
IPC分类号 :
G01M3/20  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试;其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M3/00
结构部件的流体密封性的测试
G01M3/02
应用流体或真空
G01M3/04
通过在漏泄点检测流体的出现
G01M3/20
应用特殊示踪物质,例如染料、荧光材料、放射性材料
法律状态
2020-04-14 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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