超高次谐波测量方法、系统
授权
摘要

本发明提供了一种超高次谐波测量方法及系统,该方法包括:当电能质量监测系统核心模块将采样数据环形缓存区的当前写环形缓存区指针切换到下一个采样数据环形缓存区之后,通道切换模块切换到下一个需要分析的采样通道;在信号通过通道切换模块后,带通滤波器滤除待分析超高次谐波频段信号之外的信号,并将待分析超高次谐波频段信号输入单通道高速AD;电能质量监测系统核心模块触发单通道高速AD进行采样并读取采样数据,然后将采样数据存入采样数据环形缓存区,由电能质量监测系统核心模块对采样数据进行分析和统计,得到超高次谐波的频谱和时频图。相对于现有技术,本发明降低超高次谐波测量成本,提升系统的性价比和稳定性。

基本信息
专利标题 :
超高次谐波测量方法、系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN111257637A
申请号 :
CN202010109000.0
公开(公告)日 :
2020-06-09
申请日 :
2020-02-21
授权号 :
CN111257637B
授权日 :
2022-05-20
发明人 :
曾幼松刘丰严伟诚刘军曾伟赵艳邓祥邱文艺
申请人 :
深圳市中电电力技术股份有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市福田区车公庙泰然工贸园201栋8楼西
代理机构 :
深圳市科吉华烽知识产权事务所(普通合伙)
代理人 :
胡吉科
优先权 :
CN202010109000.0
主分类号 :
G01R23/165
IPC分类号 :
G01R23/165  G01R31/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R23/00
测量频率的装置;频谱分析装置
G01R23/16
谱分析;傅立叶分析
G01R23/165
采用滤波器
法律状态
2022-05-20 :
授权
2020-07-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 23/165
申请日 : 20200221
2020-06-09 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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