一种谐波测试装置及谐波测试系统
授权
摘要
一种谐波测试装置及谐波测试系统，用于对测试样机进行谐波测试，包括滤波器件，与测试样机连接，用于对测试样机输出的基频信号进行抑制，并传输测试样机输出的谐波信号；频谱仪，与滤波器件连接，用于接收谐波信号，并对谐波信号进行测试，以获取测试结果。通过设置上述谐波测试装置及谐波测试系统，可将较小的基频信号滤除，只通过待测的谐波信号，有效的解决了传统的谐波测试方法存在着因输入的基频信号过大，从而导致测试结果不准确、测试精度较低的问题。
基本信息
专利标题 ：
一种谐波测试装置及谐波测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021976451.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-10
授权号 ：
CN213364879U
授权日 ：
2021-06-04
发明人 ：
高冬云艾奇获殷有玲黄文君
申请人 ：
深圳市共进电子股份有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市坪山区坑梓街道丹梓北路2号
代理机构 ：
深圳中一联合知识产权代理有限公司
代理人 ：
王政
优先权 ：
CN202021976451.6
主分类号 ：
G01R23/165
IPC分类号 ：
G01R23/165 G01R23/18
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R23/00
测量频率的装置；频谱分析装置
G01R23/16
谱分析；傅立叶分析
G01R23/165
采用滤波器
法律状态
2021-06-04 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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