材料宽谱吸收特性测量装置和测量方法
实质审查的生效
摘要
一种材料宽谱吸收特性测量装置和测量方法，该装置包括宽谱泵浦光路和探测光路。本发明采用常用的高功率宽谱照明光源实现材料在宽波段范围内的吸收光谱直接测量，显著降低成本。解决了泵浦光束聚焦后光斑中心空洞的问题。基于声光调制，并通过光束调控获得强单色泵浦光，提高了光源使用效率，增强了探测信号强度，提升了系统的吸收测量灵敏度和信噪比。
基本信息
专利标题 ：
材料宽谱吸收特性测量装置和测量方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114428057A
申请号 ：
CN202210038701.9
公开（公告）日 ：
2022-05-03
申请日 ：
2022-01-13
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
邵建达倪开灶刘世杰李岚清杨为香
申请人 ：
中国科学院上海光学精密机械研究所
申请人地址 ：
上海市嘉定区清河路390号
代理机构 ：
上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
张宁展
优先权 ：
CN202210038701.9
主分类号 ：
G01N21/01
IPC分类号 ：
G01N21/01 G01N21/39
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/01
便于进行光学测试的装置或仪器
法律状态
2022-05-20 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/01
申请日 : 20220113
申请日 : 20220113
2022-05-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
