离子质谱计
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
本仪器由中性原子轰击离子源和同位素质谱计中的分析器和接收器组成。将待测离子水溶液滴在靶针上，烘干或吹干后送入离子源，经中性氩原子轰击后，产生离子进入分析器进行分析。该仪器用于水溶液中各种正负离子定性定量混合离子及元素丰度精确测量；对离子测量选择性强，干扰小，样品制备简单。一般金属离子检测灵敏度10-9—10-10g，对碱金属可达10-11—10-12g。
基本信息
专利标题 ：
离子质谱计
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN87212873.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1987-11-19
授权号 ：
CN87212873U
授权日 ：
1988-07-27
发明人 ：
黄庆文
申请人 ：
北京信通电脑技术公司
申请人地址 ：
北京市海淀路31号
代理机构 ：
北京市海淀区专利事务所
代理人 ：
王素菊
优先权 ：
CN87212873.3
主分类号 ：
G01N30/72
IPC分类号 ：
G01N30/72
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N30/00
利用吸附作用、吸收作用或类似现象，或者利用离子交换，例如色谱法将材料分离成各个组分，来测试或分析材料
G01N30/02
柱色谱法
G01N30/62
相应的专用检测器
G01N30/72
质谱仪
法律状态
1993-03-17 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1989-03-08 ：
授权
1988-07-27 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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