离子阱质谱仪的质谱测定方法

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摘要

本发明提供了一种离子阱质谱仪的质谱测定方法。该质谱测定方法根据离子阱内待测样品浓度的实际情况，在待测样品开始出峰且浓度未达到最高点时，对后续正式扫描阶段的离子化时间进行动态调整；在待测样品浓度最高点已过去后，对后续正式扫描阶段的离子化时间进行系数增长；并在预扫描离子化时间大于阈值时间时，将后续正式扫描阶段的离子化时间保持为阈值时间不变；进行多个周期的质谱测定，将多个周期的测定结果进行平均。使得每个正式扫描阶段中离子阱内离子数量始终处于比较合适的状态，避免空间电荷效应。

基本信息

专利标题：

离子阱质谱仪的质谱测定方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN109752444A

申请号：

CN201811651515.2

公开（公告）日：

2019-05-14

申请日：

2018-12-31

授权号：

CN109752444B

授权日：

2022-04-05

发明人：

段炼马乔刘立鹏韩双来

申请人：

聚光科技（杭州）股份有限公司;杭州谱育科技发展有限公司

申请人地址：

浙江省杭州市滨江区滨安路760号

代理机构：

北京真致博文知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

孙敬文

优先权：

CN201811651515.2

主分类号：

G01N27/62

IPC分类号：

G01N27/62 G01N30/72