离子探针质谱仪及其成像方法
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摘要

本说明书实施例提供一种离子探针质谱仪及其成像方法。具体地,所述离子探针质谱仪包括:压缩偏转板,被配置为通过施加第一电压将样品经一次离子束扫描并轰击产生的二次离子束按时序压缩;质谱仪,被配置为对经过压缩的二次离子束进行分析;解压偏转板,被配置为通过施加第二电压将经过所述质谱仪的二次离子束按时序解压;其中,所述第一电压和所述第二电压的频率相同;以及成像组件,被配置为获取经过所述解压偏转板解压的二次离子束图像。通过这样的技术方案,在离子显微镜模式的基础上,通过对二次离子束的压缩和解压,实现对质量分辨率的提高,同时能够满足点对点的显微功能,具有成像效率高的优势。

基本信息
专利标题 :
离子探针质谱仪及其成像方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN112309822A
申请号 :
CN202011052319.0
公开(公告)日 :
2021-02-02
申请日 :
2020-09-29
授权号 :
CN112309822B
授权日 :
2022-04-15
发明人 :
刘宇唐国强李秋立
申请人 :
中国科学院地质与地球物理研究所
申请人地址 :
北京市朝阳区北土城西路19号
代理机构 :
北京风雅颂专利代理有限公司
代理人 :
陈宙
优先权 :
CN202011052319.0
主分类号 :
H01J49/06
IPC分类号 :
H01J49/06  H01J49/14  H01J49/26  G01N27/62  
相关图片
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01J
放电管或放电灯
H01J49/00
粒子分光仪或粒子分离管
H01J49/02
零部件
H01J49/06
电子光学或离子光学装置
法律状态
2022-04-15 :
授权
2021-02-23 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01J 49/06
申请日 : 20200929
2021-02-02 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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