离子束流分布的测定方法
实质审查的生效
摘要

本发明提供一种离子束流分布的测定方法,包括:将离子束流注入至测量阵列;其中,测量阵列包括呈阵列式排布的多个测量单元;读取每一测量单元中的电流值,并将电流值大于零的所有测量单元定义为测量区域;根据测量区域中每一测量单元的电流值,计算出每一测量单元接收的离子束流的密度;至少根据离子束流的密度,计算出测量区域中的离子束流分布尺寸。可见,本发明是通过构建测量阵列来接收离子束流,并利用读取的电流值和计算出的离子束流的密度,获取离子束流分布的边界尺寸,测量方法简便且精度高。并且,测量阵列细分为多个呈阵列式排布的测量单元,以保证读取的电流值的精确度,从而提高了离子束流分布的尺寸的精准度。

基本信息
专利标题 :
离子束流分布的测定方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114334591A
申请号 :
CN202111649958.X
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2021-12-30
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
冯木材陶卓黄家明
申请人 :
广州粤芯半导体技术有限公司
申请人地址 :
广东省广州市黄埔区凤凰五路28号
代理机构 :
上海思捷知识产权代理有限公司
代理人 :
冯启正
优先权 :
CN202111649958.X
主分类号 :
H01J37/244
IPC分类号 :
H01J37/244  H01J37/317  
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01J
放电管或放电灯
H01J37/00
有把物质或材料引入使受到放电作用的结构的电子管,例如为了对其检验或加工的
H01J37/02
零部件
H01J37/244
检测器;所采用的组件或电路
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01J 37/244
申请日 : 20211230
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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