一种用于高灵敏氦质谱检漏仪的聚焦离子源
专利权的终止(未缴年费专利权终止)
摘要
本实用新型涉及一种用于高灵敏氦质谱检漏仪的聚焦离子源，由检漏口①、发射针腔②、钨针③、纳米针尖④、引出极⑤、聚焦极⑥和电路系统⑦组成，其特征在于钨针的尖端直径只有5～10μm，在钨针尖上还有纳米针尖，钨针置于发射针腔中，纳米针尖加正偏压、引出极加负电压，形成强电场，气体在检漏口进入发射针腔后向纳米针尖流动，在纳米针尖周围离化成离子，经引出极及电场引出到聚焦极，形成较强的聚集离子束流。本实用新型聚焦离子源具有聚焦好，灵敏度高，常温低温发射等优点，适用作各种高灵敏氦质谱检漏仪的离子源。
基本信息
专利标题 ：
一种用于高灵敏氦质谱检漏仪的聚焦离子源
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN200620172514.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2006-12-22
授权号 ：
CN201075369Y
授权日 ：
2008-06-18
发明人 ：
付德君黎明刘家瑞刘传胜
申请人 ：
武汉大学
申请人地址 ：
430072湖北省武汉市武昌珞珈山
代理机构 ：
武汉华旭知识产权事务所
代理人 ：
江钊芳
优先权 ：
CN200620172514.6
主分类号 ：
H01J49/10
IPC分类号 ：
H01J49/10
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01J
放电管或放电灯
H01J49/00
粒子分光仪或粒子分离管
H01J49/02
零部件
H01J49/10
离子源；离子枪
法律状态
2010-03-03 ：
专利权的终止(未缴年费专利权终止)
2008-06-18 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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