一种氦质谱检漏仪
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摘要

本实用新型涉及一种氦质谱检漏仪,涉及检测设备技术领域,其包括工作台,所述工作台上设有质谱室,所述质谱室上设有盖体,所述质谱室内设有喷吹扰动组件,所述喷吹扰动组件包括设于所述工作台上的空气压缩机,所述质谱室内设有与所述空气压缩机采用管道连接的喷吹组件,所述质谱室一侧设有泄压单元。当质谱室内完成检测后,根据氦气的含量和检测次数,可开启喷吹扰动组件,将空气压缩机内的压缩空气导入质谱室,通过喷吹组件进行喷吹,将残余气体导入泄压单元,快速将质谱室内残余气体导出,避免氦气积聚后影响检测结果。

基本信息
专利标题 :
一种氦质谱检漏仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021158619.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-06-19
授权号 :
CN212779789U
授权日 :
2021-03-23
发明人 :
于润泽
申请人 :
北京旭普科技有限公司
申请人地址 :
北京市海淀区上地国际科技创业园2-1703
代理机构 :
北京维正专利代理有限公司
代理人 :
孙铭侦
优先权 :
CN202021158619.2
主分类号 :
G01M3/20
IPC分类号 :
G01M3/20  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试;其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M3/00
结构部件的流体密封性的测试
G01M3/02
应用流体或真空
G01M3/04
通过在漏泄点检测流体的出现
G01M3/20
应用特殊示踪物质,例如染料、荧光材料、放射性材料
法律状态
2021-03-23 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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