氦质谱检漏仪校准系统及校准方法
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摘要

本发明公开了氦质谱检漏仪校准系统,属于氦质谱检漏仪技术领域,包括采集模块、处理模块和校准模块,采集模块包含第一采集单元、第二采集单元和第三采集单元,第一采集单元用于采集氦质谱检漏仪的电气信息;第二采集单元用于采集氦质谱检漏仪的抽气信息;第三采集单元用于采集氦质谱检漏仪的质谱信息;处理模块用于对采集的各项数据进行特征提取和处理,得到特征处理集;校准模块用于根据特征处理集对氦质谱检漏仪进行分析和校准,得到校准结果;本发明还公开了氦质谱检漏仪校准系统的校准方法;本发明用于解决现有方案中氦质谱检漏仪校准的效果不佳的技术问题。

基本信息
专利标题 :
氦质谱检漏仪校准系统及校准方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN113686493A
申请号 :
CN202110983820.7
公开(公告)日 :
2021-11-23
申请日 :
2021-08-25
授权号 :
CN113686493B
授权日 :
2022-05-31
发明人 :
朱操胜
申请人 :
安徽诺益科技有限公司
申请人地址 :
安徽省合肥市蜀山区蜀山新产业园区联东U谷蜀山国际企业港14-2栋
代理机构 :
合肥正则元起专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
孙钧荣
优先权 :
CN202110983820.7
主分类号 :
G01M3/00
IPC分类号 :
G01M3/00  G01M3/20  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试;其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M3/00
结构部件的流体密封性的测试
法律状态
2022-05-31 :
授权
2021-12-10 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01M 3/00
申请日 : 20210825
2021-11-23 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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