一种基于热解析-四极质谱测量原理定量获取材料中ppm级氢...
公开
摘要
本发明属于材料中氢同位素测量技术领域，尤其涉及一种基于热解析‑四极质谱测量原理定量获取材料中ppm级氢同位素含量的方法。本发明提供的测量方法：得到待测样品释放出的氢同位素或氦同位素的质谱信号随时间变化的信号‑时间关系曲线后，根据氢同位素或氦同位素的质谱信号和漏率的线性关系曲线获得待测样品中氢同位素或氦同位素的含量。本发明提供的测量方法通过构建的气体质谱信号和漏率的线性关系曲线，将热脱附谱即真空加热提取和质谱测量相结合，能够实现不同材料中的ppm量级氢同位素或氦同位素的准确测量。
基本信息
专利标题 ：
一种基于热解析-四极质谱测量原理定量获取材料中ppm级氢同位素含量的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114624319A
申请号 ：
CN202210349512.3
公开（公告）日 ：
2022-06-14
申请日 ：
2022-04-02
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
陈长安叶小球吴吉良李赣朱吉鹏杨蕊竹李强饶咏初
申请人 ：
中国工程物理研究院材料研究所
申请人地址 ：
四川省绵阳市江油市华丰新村9号
代理机构 ：
北京高沃律师事务所
代理人 ：
霍苗
优先权 ：
CN202210349512.3
主分类号 ：
G01N27/62
IPC分类号 ：
G01N27/62 G01N1/44 G01N13/00 G01N13/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N27/62
通过测试气体的电离，例如气溶胶；通过测试放电，例如阴极发射
法律状态
2022-06-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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