一种固体绝缘的介电谱测量装置及其测量方法
公开
摘要
一种固体绝缘的介电谱测量装置及其测量方法,涉及绝缘材料测量技术领域。本发明的目的是为了解决传统的介电谱测量装置无法实现液氮冷却和真空处理同时进行,以及固体试样不能与电极完全贴合的问题。本发明介电谱测量装置实现测量与反馈一体化,可以根据实际需求来灵活地进行调节,智能化程度高。计算机根据预先设定的测量模式对电压源、温控装置和真空抽取装置输送指令,并且根据传感器反馈的信号进行调节,温控与真空处理可同时进行,具有较高的智能化。本发明可获得一种固体绝缘的介电谱测量装置及其测量方法。
基本信息
专利标题 :
一种固体绝缘的介电谱测量装置及其测量方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114563629A
申请号 :
CN202210301155.3
公开(公告)日 :
2022-05-31
申请日 :
2022-03-25
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
陈庆国赵寒付强程嵩
申请人 :
哈尔滨理工大学
申请人地址 :
黑龙江省哈尔滨市南岗区学府路52号
代理机构 :
哈尔滨市松花江专利商标事务所
代理人 :
李红媛
优先权 :
CN202210301155.3
主分类号 :
G01R27/26
IPC分类号 :
G01R27/26 G01R31/12 G01R31/16
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性,例如时间常数的实值或复值测量
G01R27/26
电感或电容的测量;品质因数的测量,例如通过应用谐振法;损失因数的测量;介电常数的测量
法律状态
2022-05-31 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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