用于确定介电值的测量装置
实质审查的生效
摘要
本发明涉及一种用于确定介质(2)的介电值(DK)的测量装置(1)，该测量装置至少具有以下部件：测量传感器(11)，该测量传感器具有至少一个第一导电电极(111)；以及高频单元，该高频单元被设计成将高频信号(SHF)至少耦合到第一电极(111)中，并且使用对应的反射信号(THF)来确定介质(2)的介电值。根据本发明，测量装置(1)的特征在于，第一电极(111)被缠绕在可以与介质(2)接触的测量杆(110)上。通过缠绕电极，测量传感器(11)可以有利地被配置成显著较短，而不限制测量装置(1)的灵敏度。以这种方式，测量装置(1)也可以在受限的安装条件下使用。
基本信息
专利标题 ：
用于确定介电值的测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114502966A
申请号 ：
CN202080064183.7
公开（公告）日 ：
2022-05-13
申请日 ：
2020-08-20
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
托马斯·布勒德特奥拉夫·特克斯托尔
申请人 ：
恩德莱斯和豪瑟尔欧洲两合公司
申请人地址 ：
德国毛尔堡
代理机构 ：
中原信达知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
穆森
优先权 ：
CN202080064183.7
主分类号 ：
G01R27/26
IPC分类号 ：
G01R27/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性，例如时间常数的实值或复值测量
G01R27/26
电感或电容的测量；品质因数的测量，例如通过应用谐振法；损失因数的测量；介电常数的测量
法律状态
2022-05-31 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 27/26
申请日 : 20200820
申请日 : 20200820
2022-05-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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