快速介电温谱测试方法
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摘要

在本发明中,使介电测试环境的温度按照设定的升温速率而随时间线性升高,阻抗测试仪持续地以设定的频率对待测试样进行介电测试,变温测试箱中的温度传感器的测量数值、阻抗测试仪的介电测试数据通过连接线传输至计算机,由计算机进行存储和后期分析,测试数据保存为数据文件;然后标定当次测试的温度传感器测试温度与待测试样的实际温度之间的差值;数据文件中的每一个温度测量值扣除温度传感器测试温度与待测试样的实际温度之间的差值后,得到待测试样的实际温度,最终得到待测试样在设定频率下的实际的介电温谱。本发明的方法极大地缩短了测试时间。

基本信息
专利标题 :
快速介电温谱测试方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN113358938A
申请号 :
CN202110531565.2
公开(公告)日 :
2021-09-07
申请日 :
2021-05-14
授权号 :
CN113358938B
授权日 :
2022-04-19
发明人 :
尹海宏周宇祥施天宇赵晨媛邵海宝邓洪海黄静秦琳张振娟
申请人 :
南通大学
申请人地址 :
江苏省南通市崇川区啬园路9号
代理机构 :
南京苏科专利代理有限责任公司
代理人 :
范丹丹
优先权 :
CN202110531565.2
主分类号 :
G01R27/26
IPC分类号 :
G01R27/26  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性,例如时间常数的实值或复值测量
G01R27/26
电感或电容的测量;品质因数的测量,例如通过应用谐振法;损失因数的测量;介电常数的测量
法律状态
2022-04-19 :
授权
2021-09-24 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 27/26
申请日 : 20210514
2021-09-07 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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