材料介电性能的测试方法、装置和系统
授权
摘要
本发明公开了一种材料介电性能的测试方法、装置和系统。其中，该测试方法包括：通过第一耦合波导环向开放式谐振腔发送电磁波，并获取第二耦合波导环从开放式谐振腔接收到的电磁波，其中，电磁波通过第一耦合波导环进入开放式谐振腔内后，穿过第一可调节电磁圈到达待测试样品表面，并与待测试材料发生相干散射后，再穿过对称放置的第二可调节电磁圈到达对称设置的第二耦合波导环；在电磁波在开放式谐振腔内传播的过程中，调节第一可调节电磁圈和第二可调节电磁圈的孔径和/或位置。本发明解决了在高频条件下测试介电材料性能的方法存在各种缺陷的技术问题。
基本信息
专利标题 ：
材料介电性能的测试方法、装置和系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111198302A
申请号 ：
CN202010091383.3
公开（公告）日 ：
2020-05-26
申请日 ：
2020-02-13
授权号 ：
CN111198302B
授权日 ：
2022-06-07
发明人 ：
宋锡滨奚洪亮艾辽东
申请人 ：
山东国瓷功能材料股份有限公司
申请人地址 ：
山东省东营市经济技术开发区辽河路24号
代理机构 ：
北京康信知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
赵囡囡
优先权 ：
CN202010091383.3
主分类号 ：
G01R27/26
IPC分类号 ：
G01R27/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性，例如时间常数的实值或复值测量
G01R27/26
电感或电容的测量；品质因数的测量，例如通过应用谐振法；损失因数的测量；介电常数的测量
法律状态
2022-06-07 ：
授权
2020-06-19 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 27/26
申请日 : 20200213
申请日 : 20200213
2020-05-26 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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