介质介电特性测试系统
专利权的终止未缴纳年费专利权终止
摘要
本实用新型涉及到一种用于测试介质介电特性的测试系统，它不仅适合于附铜箔介质板介质特性的测试，还可用于教学中观测微带线内的场分布。该系统用信号源馈电的方法在样条微带线中建立驻波场，利用控针沿线测取微带线外部近场，从而可得导行彼波长λg，推算介电参数εr。该系统探针位置合理，使测试结果更为精确。另外，由于采用了固态源及塑料探针支架，使系统组成比任何同类产品都简单，造价更低。该系统测试误差小于5％。
基本信息
专利标题 ：
介质介电特性测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN88212820.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1988-03-24
授权号 ：
CN2034695U
授权日 ：
1989-03-22
发明人 ：
徐刚林昌禄
申请人 ：
成都电讯工程学院
申请人地址 ：
四川省成都市东郊建设北路二段四号
代理机构 ：
电子科技大学专利事务所
代理人 ：
盛明洁
优先权 ：
CN88212820.5
主分类号 ：
G01R27/26
IPC分类号 ：
G01R27/26
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性，例如时间常数的实值或复值测量
G01R27/26
电感或电容的测量；品质因数的测量，例如通过应用谐振法；损失因数的测量；介电常数的测量
法律状态
1991-08-14 ：
专利权的终止未缴纳年费专利权终止
1990-01-10 ：
授权
1989-03-22 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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