IC卡接口电特性测试系统

专利权的终止

摘要

IC卡接口电特性测试系统涉及满足ISO7816规范的读卡终端和IC卡的接口电特性测试系统，特别涉及一种通过采用模拟数字(A/D)转换技术采集接口信号波形、采用数字模拟(D/A)转换技术输出接口信号以及通过软件模拟读卡终端和IC卡的接口波形和电特性以测试IC卡与读卡终端进行通讯的接口电特性的专用测试系统，并且该系统产生的信号波形范围比ISO7816规定的范围更大，接收信号的偏差允许度更大，从而不仅可以给出读卡终端或IC卡是否与ISO7816是否兼容的测试，还可以给出读卡终端或IC卡的各个性能指标与ISO7816规范之间的兼容性的详细报告包括与规范一致性量化报告，兼容性量化指标、偏差量化指标。

基本信息

专利标题：

IC卡接口电特性测试系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN1793991A

申请号：

CN200510116809.1

公开（公告）日：

2006-06-28

申请日：

2005-10-31

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

李博航

申请人：

李博航

申请人地址：

100026北京市朝阳区团结湖中路南一条2号楼4门503室

代理机构：

代理人：

优先权：

CN200510116809.1

主分类号：

G01R31/00

IPC分类号：

G01R31/00