飞行时间型质量分析装置以及分析方法
公开
摘要
本发明涉及一种飞行时间型质量分析装置，具备：电极，为了形成离子的飞行空间而被施加直流的高电压；高电压电源装置，对电极施加高电压。高电压电源装置包括：高电压产生电路，产生高电压；电压控制电路，选择性地设定为第1模式和第2模式，所述第1模式控制高电压产生电路使得高电压具有第1收敛响应性以及第1稳定性，所述第2模式控制高电压产生电路使得高电压具有比第1收敛响应性低的第2收敛响应性以及比第1稳定性高的第2稳定性。
基本信息
专利标题 ：
飞行时间型质量分析装置以及分析方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114616646A
申请号 ：
CN202080074796.9
公开（公告）日 ：
2022-06-10
申请日 ：
2020-08-17
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
岸田拓郎青木宁河合俊升
申请人 ：
株式会社岛津制作所
申请人地址 ：
日本国京都府
代理机构 ：
上海立群专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
杨楷
优先权 ：
CN202080074796.9
主分类号 ：
H01J49/02
IPC分类号 ：
H01J49/02 H01J49/40 G01N27/62
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01J
放电管或放电灯
H01J49/00
粒子分光仪或粒子分离管
H01J49/02
零部件
法律状态
2022-06-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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