质量分析装置和方法
实质审查的生效
摘要
一种带电粒子的操纵设备(1)，包括系列电极(2，3)，被设置为形成用于传输带电粒子的通道。电源单元(5)用于向轴向分段聚束电极(3)提供根据具有周期(T)的波形而变化的第一电源电压(7)，以在通道内产生电场。所述电场的电势限定了沿着通道长度平移的势阱，使得势阱在基本上等于所述周期(T)的时间间隔内的平移距离基本上等于自身长度。所述波形在其周期(T)内基本上连续平稳，在所述周期(T)内的有限时间段(TL
基本信息
专利标题 ：
质量分析装置和方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114270474A
申请号 ：
CN202080059469.6
公开（公告）日 ：
2022-04-01
申请日 ：
2020-08-28
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
R·吉尔斯A·吉尔斯
申请人 ：
株式会社岛津制作所
申请人地址 ：
日本国京都府
代理机构 ：
上海立群专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
杨楷
优先权 ：
CN202080059469.6
主分类号 ：
H01J49/06
IPC分类号 ：
H01J49/06 H01J49/40
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01J
放电管或放电灯
H01J49/00
粒子分光仪或粒子分离管
H01J49/02
零部件
H01J49/06
电子光学或离子光学装置
法律状态
2022-04-19 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01J 49/06
申请日 : 20200828
申请日 : 20200828
2022-04-01 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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