利用正交碎裂方法的质量分析-SWATH方法
公开
摘要
在DIA方法中，感兴趣的指定前体离子m/z范围被划分为两个或更多个前体离子质量选择窗口的组。串联质谱仪被指示在指定的循环时间内对该组的每个前体离子质量选择窗口进行选择、使用第一解离技术解离、以及质量分析。使用第一解离技术为该组的每个窗口产生产物离子强度和m/z测量结果。串联质谱仪还被指示在同一循环时间内对该组的每个前体离子质量选择窗口进行选择、使用第二解离技术解离、以及质量分析。使用第二解离技术为该组的每个窗口产生产物离子强度和m/z测量结果。来自第一解离技术和第二解离技术二者的产物离子测量结果用于识别或定量样品的化合物。
基本信息
专利标题 ：
利用正交碎裂方法的质量分析-SWATH方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114616645A
申请号 ：
CN202080075306.7
公开（公告）日 ：
2022-06-10
申请日 ：
2020-09-22
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
Y·勒布朗
申请人 ：
DH科技发展私人贸易有限公司
申请人地址 ：
新加坡新加坡
代理机构 ：
中国贸促会专利商标事务所有限公司
代理人 ：
冯雯
优先权 ：
CN202080075306.7
主分类号 ：
H01J49/00
IPC分类号 ：
H01J49/00
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01J
放电管或放电灯
H01J49/00
粒子分光仪或粒子分离管
法律状态
2022-06-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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