半导体整流器件动态分析仪和质量分析方法
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
本发明公开了一种半导体整流器件质量分析仪器和质量分析方法。仪器由工况建立和微型计算机数据处理两大部分组成。采用本仪器和分析方法，是将半导体整流器件置于实际的整流工况中对其反向动态平均电流进行测试和分析。与常规的静态方法相比，能更可靠地预测器件上机时的质量优劣，提供更合理的质量筛选限，并能为改进产品质量提供技术依据。因此，它是整流器件的生产厂和使用厂分析器件质量的有效工具。
基本信息
专利标题 ：
半导体整流器件动态分析仪和质量分析方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN85107867A
申请号 ：
CN85107867.2
公开（公告）日 ：
1986-09-03
申请日 ：
1985-10-24
授权号 ：
CN1008218B
授权日 ：
1990-05-30
发明人 ：
赵富李增锡葛淑欣乔子高
申请人 ：
石家庄市自动化研究所
申请人地址 ：
河北省石家庄市长安东路12号
代理机构 ：
河北省专利事务所
代理人 ：
王苑祥
优先权 ：
CN85107867.2
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
1995-12-06 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1991-02-20 ：
授权
1990-05-30 ：
审定
1987-10-21 ：
实质审查请求
1986-09-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN85107867A.PDF
PDF下载
2、
CN1008218B.PDF
PDF下载
