本发明属于检测技术领域，具体涉及一种基质辅助激光解吸电离‑飞行时间质谱仪及样品检测方法。本发明提供的基质辅助激光解吸电离‑飞行时间质谱仪，包括真空系统和光学系统；所述光学系统包括激光器、透镜组和反射镜组，所述光学系统中的反射镜组替换为振镜系统，利用振镜摆动，调整激光的光路，进而实现对样品的精准轰击，避免了轰击非结晶区域，不能实现样品的电离，从而提高了检测效率。