具有同步弯曲离子界面的多反射飞行时间质谱仪
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摘要
本发明一般涉及多反射飞行时间质谱仪(MR TOF MS)。为了改进平面MR TOF MS分析仪(11)的质量分辨率，空间同步和弯曲界面(21)可以用于进出MR TOF MS分析仪(11)的离子传送。一个实施例包括在无场空间中具有周期透镜(14)的平面MR TOF MS(11)、用来把离子流动转换成脉冲的线性离子阱(17)及由静电扇区制成的C形同步界面。界面(21)允许绕离子反射镜(12)的边沿和边缘场(13)传送离子而不引入显著时间散布。界面(21)也可以提供离子包的能量滤波。通过使用来自离子阱的延迟离子抽取可以减小离子阱转换器(17)的非相关折返时间，并且过大离子能量在弯曲界面(21)中过滤。
基本信息
专利标题 ：
具有同步弯曲离子界面的多反射飞行时间质谱仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN101171660A
申请号 ：
CN200680015367.4
公开（公告）日 ：
2008-04-30
申请日 ：
2006-03-22
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
阿纳托利·N·维雷恩特奇科夫米克海尔·雅沃尔
申请人 ：
莱克公司
申请人地址 ：
美国密执安州
代理机构 ：
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
代理人 ：
马浩
优先权 ：
CN200680015367.4
主分类号 ：
H01J49/40
IPC分类号 ：
H01J49/40
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01J
放电管或放电灯
H01J49/00
粒子分光仪或粒子分离管
H01J49/26
质谱仪或质量分离管
H01J49/34
动态分光仪
H01J49/40
飞行时间型分光仪
法律状态
2010-09-29 ：
授权
2008-06-25 ：
实质审查的生效
2008-04-30 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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