微波暗室远场测试系统
授权
摘要
本申请提供一种微波暗室远场测试系统，包括微波暗室、天线测试转台、射频信号链路、控制中心，所述天线测试转台设置于微波暗室内，所述射频信号链路连接天线测试转台与控制中心，所述天线测试转台包括发射天线转台和接收天线转台，所述接收天线转台为机器人转台。本申请是采用六轴工业机器人实现大范围、高自由度、高精度的天线辐射参数测量。
基本信息
专利标题 ：
微波暗室远场测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921461167.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-09-04
授权号 ：
CN211374896U
授权日 ：
2020-08-28
发明人 ：
东君伟冼育览毛记平黄桂华
申请人 ：
中山香山微波科技有限公司
申请人地址 ：
广东省中山市火炬开发区中山港大道99号金盛广场1号商业楼606房
代理机构 ：
深圳瑞天谨诚知识产权代理有限公司
代理人 ：
王昌花
优先权 ：
CN201921461167.2
主分类号 ：
G01R29/10
IPC分类号 ：
G01R29/10
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R29/00
不包括在G01R19/00至G01R27/00各组中的电量的测量或指示装置
G01R29/08
电磁场特性的测量
G01R29/10
天线的辐射图
法律状态
2020-08-28 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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