微波暗室测试柜及微波暗室测试系统

授权

摘要

本实用新型涉及一种微波暗室测试柜及微波暗室测试系统，微波暗室测试柜包括柜门和控制机构；测试柜的侧壁开设有窗口；控制机构包括控制器，第一传感器、第二传感器和第三传感器；第一传感器设置于测试柜中的转台上，用于检测被测件是否已经放置于转台上；第二传感器用于检测被测件在转台上是否处于被夹具夹紧的状态；第三传感器用于检测窗口是否存在遮挡信号；控制器在第二传感器确定被测件被夹紧并且第三传感器确定窗口不存在遮挡信号时，驱动柜门自下而上的关闭窗口。本实用新型中，柜门，采用上下垂直开启和关闭的非旋转式安装，节省空间。并且，通过传感器和控制的配合，柜门自下而上垂直进行关闭，更加安全可靠。

基本信息

专利标题：

微波暗室测试柜及微波暗室测试系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201922105677.2

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-11-29

授权号：

CN211348440U

授权日：

2020-08-25

发明人：

夏冬雪

申请人：

深圳市蓉声科技有限公司

申请人地址：

广东省深圳市福田区福中路27号海连大厦连天阁1103室

代理机构：

北京市商泰律师事务所

代理人：

麻吉凤

优先权：

CN201922105677.2

主分类号：

G01R29/08

IPC分类号：

G01R29/08