微波暗室及其杂波优化组件
授权
摘要
本实用新型涉及天线性能测试技术领域，公开了一种微波暗室及其杂波优化组件，杂波优化组件用于微波暗室内被测件的测试，包括背板，所述背板设置于所述微波暗室的内壁，所述背板的表面设置有吸波材料，所述背板为非金属材质。本实用新型优化了暗室内壁的结构设计，降低了暗室内壁对天线测试结果的干扰，提高了测试性能。
基本信息
专利标题 ：
微波暗室及其杂波优化组件
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123043772.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-06
授权号 ：
CN216560791U
授权日 ：
2022-05-17
发明人 ：
夏冬雪
申请人 ：
深圳市蓉声科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市福田区福中路27号海连大厦连天阁1103室
代理机构 ：
北京市商泰律师事务所
代理人 ：
麻吉凤
优先权 ：
CN202123043772.8
主分类号 ：
G01R29/10
IPC分类号 ：
G01R29/10
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R29/00
不包括在G01R19/00至G01R27/00各组中的电量的测量或指示装置
G01R29/08
电磁场特性的测量
G01R29/10
天线的辐射图
法律状态
2022-05-17 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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