暗室组件与检测设备
授权
摘要

本实用新型提供一种暗室组件与检测设备,暗室组件包括暗室与载物台,暗室具有用于容纳待测样本的腔体,以及连通腔体的开口;载物台包括遮光部与承载部,载物台与暗室连接,并能够相对暗室移动,以使至少一部分的承载部从开口移出腔体,遮光部位于暗室的外部,用于封闭开口;暗室与遮光部中的一个具有第一凸起,另一个具有第一凹槽,第一凸起与第一凹槽均沿开口的周向设置,且在遮光部处于封闭开口的状态下,第一凸起伸入至第一凹槽内。本实用新型的遮光部与暗室通过第一凸起与第一凹槽进行连接,当第一凸起伸入至第一凹槽后,会使遮光部与暗室连接处的缝隙变得曲折,外界的光线将更难以进入暗室的腔体,有助于提升遮光部的遮光效果。

基本信息
专利标题 :
暗室组件与检测设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021455300.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-07-21
授权号 :
CN212904607U
授权日 :
2021-04-06
发明人 :
甘海王盼
申请人 :
深圳市福瑞康科技有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市光明新区新湖街道楼村社区凤新路新健兴科技工业园A2栋5楼西
代理机构 :
广州嘉权专利商标事务所有限公司
代理人 :
谢岳鹏
优先权 :
CN202021455300.6
主分类号 :
G01N23/22
IPC分类号 :
G01N23/22  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
法律状态
2021-04-06 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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