本发明公开了一种微波暗室紧缩场测试系统，用于基于待测目标检测天线性能，包括：发射天线，偏置反射装置和接收组件；所述发射天线，被配置为向所述偏置反射装置发射电磁波信号；所述偏置反射装置将平面波信号出射至所述待测目标；所述接收组件，包括：聚焦装置，接收所述待测目标散射出的电磁波信号汇聚输出给接收馈源；接收馈源，被配置为接收汇聚的电磁波信号；轨道，被配置为承载所述接收馈源和所述聚焦装置，并可带动接收馈源和所述聚焦装置沿指定方向移动，以实现利用所述接收馈源在所述轨道的各位置接收汇聚的电磁波信号。本公开的微波暗室紧缩场测试系统整体尺寸小，并且可以实现多方位的测试。