基于角馈的紧缩场测试系统
授权
摘要
本实用新型涉及一种基于角馈的紧缩场测试系统，包括：馈源和反射面；所述馈源包括馈源天线；所述馈源天线的相位中心设置于反射面曲面的焦点；所述馈源为角馈，处于与其所发出的球面波被所述反射面反射所产生的平面波的传播方向所垂直的各个平面中，能量辐值最小的区域。本实用新型通过改进馈源位置，干扰信号与有用信号错开一定的角度，避免有用信号和无用信号叠加在一起，当被测件被放置于静区范围内时，可以进一步优化静区性能，提高了被测天线测试性能的准确度。
基本信息
专利标题 ：
基于角馈的紧缩场测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020242948.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-02
授权号 ：
CN211955669U
授权日 ：
2020-11-17
发明人 ：
夏冬雪
申请人 ：
深圳市蓉声科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市福田区福中路27号海连大厦连天阁1103室
代理机构 ：
北京市商泰律师事务所
代理人 ：
麻吉凤
优先权 ：
CN202020242948.9
主分类号 ：
G01R29/10
IPC分类号 ：
G01R29/10
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R29/00
不包括在G01R19/00至G01R27/00各组中的电量的测量或指示装置
G01R29/08
电磁场特性的测量
G01R29/10
天线的辐射图
法律状态
2020-11-17 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
