基于紧缩场的相控阵天线测试校准系统

授权

摘要

本实用新型涉及一种基于紧缩场的相控阵天线测试校准系统，包括反射面、馈源、相控阵天线、切换开关、网络分析仪和控制器。其中，馈源设置于反射面曲面焦点位置；相控阵天线包括基板，基板上设置有多个呈阵列排布的振子；切换开关与每一振子电连接；网络分析仪与馈源电连接，用于输出测试信号，并接收通过切换开关与振子接收的信号；控制器与切换开关电连接，用于控制切换开关与每一振子的通断；并且，控制器还与网络分析仪电连接，用于控制网络分析仪输出测试信号，以及接收通过切换开关和振子的接收信号，对测试信号与接收信号比对，获得相位差和幅度差。本实用新型提高了相控阵天线的测试效率，并减小了测试误差，且安装方便。

基本信息

专利标题：

基于紧缩场的相控阵天线测试校准系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921515908.0

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-09-12

授权号：

CN210007708U

授权日：

2020-01-31

发明人：

夏冬雪

申请人：

深圳市蓉声科技有限公司

申请人地址：

广东省深圳市福田区福中路27号海连大厦连天阁1103室

代理机构：

北京市商泰律师事务所

代理人：

麻吉凤

优先权：

CN201921515908.0

主分类号：

H04B17/12

IPC分类号：

H04B17/12 G01R29/10