相控阵天线协议测试装置

专利权质押合同登记的生效、变更及注销

摘要

本实用新型提出了一种相控阵天线协议测试装置，包括：第一微波暗室和第二微波暗室；基站耦合天线，每个基站耦合探头一一对应于多个基站单元天线设置在预设的近场辐射距离内；终端耦合天线，每个终端耦合探头一一对应于多个终端单元天线设置在预设的近场辐射距离内；信道模拟器，根据基站单元天线的阵中方向图信息、终端单元天线的阵中方向图信息与信道模型模拟实时的相控阵天线工作状态，以得到通信协议性能和射频性能。根据本实用新型实施例的测试装置，可以模拟基站和终端真实工作环境和状态，从而获取测试协议的各个指标以及射频终端和基站的性能指标，有效保证测试的工作效率和准确性，简单易实现。

基本信息

专利标题：

相控阵天线协议测试装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201920614970.9

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-04-29

授权号：

CN209676497U

授权日：

2019-11-22

发明人：

漆一宏于伟

申请人：

深圳市通用测试系统有限公司

申请人地址：

广东省深圳市宝安区桃花源科技创新园A栋101-106

代理机构：

北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

张润

优先权：

CN201920614970.9

主分类号：

H04W24/06

IPC分类号：

H04W24/06 H04B17/391 G01R29/10